三坐標測頭
測頭可分為接觸式和非接觸式(激光等類型)。目前主要用接觸式測頭,接觸式測頭又可分為開關式(觸發式或動態發訊式)與掃描式(比例式或靜態發訊式)兩大類。
掃描式測頭實質上相當于X、Y、Z個方向皆為差動電感測微儀,X、Y、Z三個方向的運動是靠三個方向的平行片簧支撐,是無間隙轉動,銅梁三坐標,測頭的偏移量由線性電感器測出。掃描式測頭主要用來對復雜的曲線曲面實現測量。
開關測頭的實質是零位發訊開關,以TP6(RENISHAW)為例,它相當于三對觸點串聯在電路中,蔡司三坐標培訓,當測頭產生任一方向的位移時,均使任一觸點離開,電路斷開即可發訊計數。開關式結構簡單,壽命長(106~107)、具有較好的測量重復性(0.35~0.28μm),蔡司三坐標維修,而且成本低廉,測量迅速,因而得到較為廣泛的應用。
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三坐標測量
三坐標測量機CMM的測量方式通常可分為接觸式測量、非接觸式測量和接觸與非接觸并用式測量。其中,接觸測量方式常用于機加工產品、壓制成型產品、金屬膜等的測量。為了分析工件加工數據,或為逆向工程提供工件原始信息,經常需要用三坐標測量機對被測工件表面進行數據點掃描。三坐標測量機的掃描操作是應用DMIS程序在被測物體表面的特定區域內進行數據點采集,蔡司三坐標回收,該區域可以是一條線、一個面片、零件的一個截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線等。將被測物體置于三坐標測量空間,可獲得被測物體上各測點的坐標位置,根據這些點的空間坐標值,經計算求出被測物體的幾何尺寸,形狀和位置。
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