近日,YOKOGAWAMeters&Instruments正式發布AQ6374光譜分析儀。AQ6374是一款動態范圍大、分辨率高的臺式光譜分析儀,能精準測量激光光譜,波長范圍在350~1750nm之間。
光譜分析儀可以分析諸如半導體激光器和光纖激光器等光學器件的波長成分,以便評估它們的特性。AQ6374是目前市場上一款覆蓋可見光波長和光通信波長的光譜分析儀*1。
近年來,光學技術已廣泛應用于通信、家電和材料加工等行業的各種應用之中。上述行業的發展刺激了光學技術應用產品的研究和開發,因此市場對可評估、分析激光特性的高性能光譜分析儀的需求也與日俱增。
常規的光譜分析儀可以測量有限范圍波長的光。市售的分析儀分為兩種:測量光通信波長(1260~1675nm*2)和測量可見光波長(380~780nm*3),后者通常應用于家用電器、材料加工等行業的應用。因此,基礎光學技術研究機構、寬頻帶光源制造商以及在各個領域中使用光器件的制造商不得不使用多臺光譜分析儀或使用分光鏡及其他部件構建自己的測量平臺。
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產品介紹L6/L6S系列紫外可見分光光度計可以滿足日常分析到科學研究等廣泛的應用需求。儀器采用先進合理的光路系統、低噪聲的電路設計,具有出色的可靠性和穩定性。
主要特點:
● 采用先進的光、機、電設計,光譜儀價格,具有超群的性能和性價比。。
● 采用7英寸彩色觸摸液晶顯示器,操作靈活方便。
● 采用比例雙光束監視光路結構,高性能、低雜散光“閃耀全息光柵”,高分辨率的單色器, 具有出眾的測量精度、準確性、重現性和穩定性。
● 具有獨特的自動調整“0”調整“100”,八樣品池聯動。
● 具有全波段掃描、分波段掃描、動力學時間掃描、GOTOλ、線性回歸、濃度直讀、峰谷檢測等各種功能
● 采用熱敏繪圖儀,可進行數據打印、光譜掃描、定波長時間掃描、線性回歸等曲線的繪制。
● 具有USB接口,可直接與PC機交互,強化了儀器的檢測數據、掃描圖譜等處理功能,實現了測試文檔的海量儲存,也為用戶二次開發提供了便利。
● 先進的斷電保護措施,可記憶測試數據、掃描圖譜、回歸方程以及儀器修正值等,實現了開機快速初始化進入測試狀態。
● 儀器采用高能量的長壽命法蘭盤定位燈。當儀器燈必須更換時,只要卸裝兩枚法蘭盤定位螺絲,即可保證燈源處于優越位置,無須繁瑣的光路調整。
技術指標:
● 波長范圍:190nm~1100nm
● 波長上線允許誤差:±0.5nm
● 波長重復性:≤0.2nm
● 光譜帶寬:2nm
● 雜散光:≤0.036%(T)(在220nm處,以NaI測定) (在360nm處,以NaNO2)測定)
● 透射比范圍:0.0%(T)~200.0% (T)
● 吸光度范圍:-0.301(A)~4.000(A)
● 透射比上線允許誤差:±0.3%(T)
● 漂移:≤0.0009A/0.5h(開機2h后,250nm和500nm處)
● 透射比重復性:≤0.15%(T)
● 基線平直度: ±0.002A(200nm~1090nm) 僅適用于S系列
● 噪聲:100%(T)噪聲≤0.15%(T) 0%(T)噪聲≤0.10%(T)
● 掃描速度: 快、中、慢
● 環境溫度:5℃~35℃
● 環境濕度:≤85%
● 電源電壓:AC220V±22V 50Hz±1Hz
● 額定功率:200W
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