重慶禮之鑫科技有限公司

內江光譜儀、光譜儀買賣、欣晟泰(多圖)：

X射線熒光光譜儀原理圖

X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)儀的原理主要基于：原子受到X射線的作用，其內層電子被激發，形成空穴，原子處于不穩定的激發態。為了回到穩態，原子的外層電子會躍遷回內層，多余的能量以熒光形式釋放出來，被偵測器檢測到，通過此來做分析。通常，可以將X射線熒光光譜分析儀可分為波長色散性和能量色散性。共元素干擾在日常的分析工作中，XRF這種分析方法經常會出現共元素干擾。這種共元素干擾的問題主要起源于X熒光射線偵測器對于X熒光射線的分辨率的限制所致，只要是XRF都會遭遇到相同的問題。共元素干擾主要分為三類：兩相近共元素干擾、加乘波峰、逃離波峰。

（1）兩相近共元素干擾：由于兩元素在能譜圖上的位置相近，以至于偵測器無法分別出兩者之間的差距。如鉛(La10.55Kv)、(Ka10.54Kv)。

（2）加乘波峰：由于某元素的濃度異常高，此時發出大量X熒光射線，而偵測器無法及時處理，將在能譜兩倍的位置上出現一根波峰。如大量的鐵(Ka6.4Kv)，會在能譜12.8Kv處出一根小波峰。造成誤判。但此種情形極為少見。

（3）逃離波峰：由于某元素的濃度異常高，此時發出大量X熒光射線，而偵測器無法及時處理，將在此元素的能譜位置前一個硅Ka的能譜距離多出一根小波峰而造成誤判，但情形極少出現。如錫(Ka25.27K)-硅(Ka1.74Kv)=23.53Kv≈鎘(Ka23.17 Kv)。

重慶欣晟泰，您的設備管家，值得您信賴選擇。

一 儀器原理

金屬試樣（電極）與電極之間進行電弧、電火花放電，對由此產生的輝線光譜進行光電測定，進行所含元素的定量方法。分析試樣使用光源電源激發，這時產生的光通過聚光透鏡由入口狹縫進入，內江光譜儀，導向凹面衍射光柵上，光譜儀買賣，只讀取在凹面衍射光柵上分光的光中所需的光譜線，使用儀器上的光電 倍增管將光轉化成電流。

    二 儀器結構

（一）相關定義

? 光譜分析：使用光譜儀，采用放電方式對試樣中所含分析元素進行激發，根據測量原子譜線的光譜強度，進行定量分析的方法。

? 光電測光法：采用光電倍增管檢測光強度的測定法。

? 電極：作為形成放電間隙的試樣和對電極的總稱。

? 予放電時間：設定從放電開始到激發強度穩定這一段的非積分時間。

? 氣：在電極周圍形成流動的保護氣罩，光譜儀維修，以降低試樣影響，減少空氣中氧的吸收，確保放電穩定。

? 分析試樣：供檢測用試樣。

? 標準試樣：根據JIS（日本工業標準）或其它相應標準的化學分析方法結合分析元素含量定值，用于制作檢量線用的試樣。

? 標準化試樣：儀器運行上段時間或檢測一定數日的試樣后，對檢量線進行校正所使用的形式。

重慶欣晟泰提供，光譜儀價格，歡迎來電咨詢。

系統軟件的進入方式

在DOS系統中，C：﹨EXE>盤符下，輸入ADS000，回車，進入分析軟件，這時的界面顯示的是軟件的版本號和輸入密碼，不用輸入密碼直接點回車兩次。進入儀器狀態檢查界面（Instrument check），其中Vacuum(真空，真空度)后面顯示OK，Photodetector  (PMT) High Voltage （光電倍增管高壓）下，有F1  ON，F3  OFF兩個標記，此時綠色的光標應在F1  ON上，如果不在說明負高壓沒有加上，不能進行分析，應點F1，加上負高壓。如果在日常分析中，遇到紅色的警告字符（—HV）時，表明負高壓掉了，可在分析界面下按F12推出系統，重新按上述步驟進入。在上述界面下點擊F9進入分析界面。

在上述界面下點擊F9進入主界面。光標在ST-NO（規格組）后面。按Shife+F4，用上下鍵選擇規格組，選中后回車。（也可以自己輸入。）進入分析界面，這時的光標在規格組上，用回車鍵將光標選到輸入爐號和分析者名字的位置，輸入爐號和分析者的名字。然后開始分析，每個樣子至少打兩點，得到平均值，要求所有的元素不允許出現紅字（R）（包括FE1，FE2），這里要注意一下。AN值代表電極放電次數。TAN值代表總放電次數。每根電極AN值不得超過200次，即每個班上班后必須檢查AN值看剩余次數是否足夠本班使用，如果不夠應立即更換電極。

重慶欣晟泰提供，歡迎來電咨詢，只求為您解決問題。

• 上一條：自貢光譜儀、光譜儀價格、欣晟泰
• 下一條：璧山測量儀-禮之鑫(在線咨詢)-快速影像閃測儀