X射線熒光光譜儀原理圖
X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)儀的原理主要基于:原子受到X射線的作用,原子熒光光譜儀軟件升級,其內層電子被激發,形成空穴,原子處于不穩定的激發態。為了回到穩態,忠縣光譜儀,原子的外層電子會躍遷回內層,多余的能量以熒光形式釋放出來,被偵測器檢測到,通過此來做分析。通常,可以將X射線熒光光譜分析儀可分為波長色散性和能量色散性。共元素干擾在日常的分析工作中,XRF這種分析方法經常會出現共元素干擾。這種共元素干擾的問題主要起源于X熒光射線偵測器對于X熒光射線的分辨率的限制所致,只要是XRF都會遭遇到相同的問題。共元素干擾主要分為三類:兩相近共元素干擾、加乘波峰、逃離波峰。
(1)兩相近共元素干擾:由于兩元素在能譜圖上的位置相近,以至于偵測器無法分別出兩者之間的差距。如鉛(La10.55Kv)、(Ka10.54Kv)。
(2)加乘波峰:由于某元素的濃度異常高,此時發出大量X熒光射線,而偵測器無法及時處理,將在能譜兩倍的位置上出現一根波峰。如大量的鐵(Ka6.4Kv),會在能譜12.8Kv處出一根小波峰。造成誤判。但此種情形極為少見。
(3)逃離波峰:由于某元素的濃度異常高,此時發出大量X熒光射線,而偵測器無法及時處理,將在此元素的能譜位置前一個硅Ka的能譜距離多出一根小波峰而造成誤判,但情形極少出現。如錫(Ka25.27K)-硅(Ka1.74Kv)=23.53Kv≈鎘(Ka23.17 Kv)。
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光譜儀:采用光譜儀進行光譜分析中樣品只需要打磨掉表面氧化皮,固體樣品即可放在樣品臺上激發,免去了化學分析鉆取試樣的麻煩。對于鋁及銅、鋅等有色金屬樣品而言,可用小車床車去表面氧化皮即可。
化學法:化學法取樣是原來的檢測方法中重要的環節,取樣環節很容易因為取樣人的波動而產生微量變化,從而影響測量結果,光纖光譜儀買賣,另外取樣時間是整個測試中長的過程。
二、出結果的時間 光譜儀:從樣品激發到計算機報出所有元素分析含量只需數秒至數十秒,速度非常快,有利于縮短生產時間,降低成本。特別是對那些容易燒損的元素,更便于控制其后的成份。
化學法:在取樣工作完成的情況下,每幾分鐘出一個元素的檢測結果。
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