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沙坪壩精密影像儀、欣晟泰、手動影像儀改造：

隨著國內工業深入發展對測量儀器的需求也越來越廣泛，無論是從事模具，塑膠，五金，沖壓，電子等各個領域只要涉及精密尺寸要求都需要通過尺寸量測設備進行驗證產品的研發加工精度是否合格，在這過程中品質檢測人員經常會遇到二次元測量儀，2.5次元測量儀，三次元測量儀等設備的概念，如剛接觸這些概念很難真正的理解區分。

二次元測量儀又稱“影像測量儀”主要是對精密零件的長寬角度等二維尺寸量測，在一些特殊領域還能用于產品的二維尺寸抄數生產CAD圖。

2.5次元測量儀是二次元測量儀的升級版本，在早期的概念中二次元測量儀就是XY數據讀數，2.5次元測量儀就是XYZ三軸讀數，隨著儀器功能的完善目前我們所說的2.5次元測量儀已經不僅僅滿足于Z軸讀數的簡單功能，而是在二次元測量儀的基礎上加了進口測高探頭對產品的高度深度臺階進行更有效的檢測。

三次元測量儀目前市場上有幾種不同的概念，一種是三次元測量儀就是“三坐標測量儀”采用探針接觸測量功能可以對產品的三維立體尺寸進行多方位的檢測，特別是在產品的球面，曲面位置度等方面功能突出；還有一種常見的三次元測量儀概念就是指“全自動影像測量儀”Z軸可以自動對焦XYZ都有讀數，使用上在二次元或2.5次元的基礎上對了Z軸自動對焦及產品編程批量檢測的功能。

目前，主流的顯示屏產品以TFT-LCD與AMOLED的應用為普遍。從顯示技術來看，TFT-LCD是非主動發光方式，以其成本較低、可實現多像素化、抑制串擾和對比度高、亮度高響應時間快等特點廣泛被應用于手機、電腦、平板顯示、汽車導航等終端產品。主動發光型AMOLED以其廣，可顯示鮮艷的圖像，在近幾年逐漸走入顯示產品市場，但其亮度低、壽命短的問題還是制約了AMOLED的大規模的應用。除了AMOLED屬于主動反光的形式，如今的QDLCD和傳統的LCD都是背光源發光，所以無論是TFT-LCD或是AMOLED屏，解決好其顯示亮度、色度、、均勻性，對比度之間的問題，是為終端顯示良品評估檢測所必須的技術前提。其中背光模組的亮度與色度的均勻性直接影響顯示屏的終顯示效果。

對應顯示性能（包括亮度、對比度、視角、響應時間、等參數）的檢測，大部分背光模組生產商在檢測的階段會采用點式亮度計搭載測量平臺的方案，以點式亮度計搭配自動旋轉測量平臺測若干個點的亮度和色坐標等參數，然后進行均勻性與的計算及分析。然而，點式亮度計在測量時存在一定的優點與缺點。譬如說，點式亮度計測量精度更高，但取點花費的時間較長。 中小尺寸顯示屏的測量對檢測效率有較高要求，對一些產量較大的企業，只用點式亮度計顯然不能滿足日常檢測負荷。

研究與實驗

對于顯示屏效果評估，不應只局限于定點的測量，精密影像儀非標定做，建議背光模組或顯示屏、觸摸屏生產商考慮引入二維色彩亮度計對整塊背光模組或者LCD全局進行測量。同時，采用精度較好的點式亮度計保證測量數據的準確性。需要注意的是，精密影像儀改造，二維色彩亮度計應當嚴謹地按照CIE的視覺效率函數V（λ）與人眼配色函數曲線計算，采用XYZ的濾光學儀器較一般的RGB彩色攝相機的測量結果與人眼視覺效果更加匹配。 二維色彩亮度計雖屬濾光片式，但由于其CCD探測器不同且具有大視場， 可以對被測顯示屏每個像素點的亮度與色度進行評估，這給研發生產人員在背光模組設計、觸控屏的整體效果分析提供極大的支持。

為了更好地說明點式亮度計與二維色彩亮度計兩者在顯示效果評估中的應用，了解兩種測量方法的特點。本文引入了對比實驗，分別用點式色彩亮度計CS-2000與二維色彩亮度計CA-2500搭配XY軸平臺測量樣品。以測量同一塊LED背光模組為例，在同等測量距離下選取相同位置的測量點做數據比對以驗證面測方法的可行性。

在實驗中，我們首先采用柯尼卡美能達的分光輻射亮度計CS-2000，安置在帶XY軸的測試平臺內測量LED背光模組（尺寸53mm ?87.3 mm）保證測量條件設置如下：

1） 在照度值小于0.01lx的暗箱環境下測量;

2） 環境溫度23℃，相對濕度65%

3） 校準儀器的水平與垂直方位，檢查亮度計是否處于水平和垂直于樣品進行測量；

4） 保證亮度計與該背光模組樣品的垂直距離為500mm

5） 選擇1°測量角，樣品的實際測量點大小為?7.78mm

6） 測試點(行?列)：3?3 個

7） 點亮背光10分鐘，待穩定后開始測量

8） 測量項目包括：亮度Lv，色坐標xy，相關色溫Tcp

9） 分析結果包括：亮度均勻性對比(%)，沙坪壩精密影像儀， 色溫均勻性對比(%)，每個點的數據偏差(%)

以上重慶欣晟泰為您提供參考，歡迎來電垂詢。

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