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達州光譜儀、原子吸收光譜儀、欣晟泰：

2.5D影像測量儀,快速一鍵測量儀,硬度計
為什么要扣除光譜背景
若標準樣品和被測樣品的背景不一致時，容易引起測量誤差;背景強度過大時，達州光譜儀，嚴重影響低含量元素的測定，同時造成儀器檢出限過高。因而，扣除背景有利于提高分析結果的穩定性和準確度，提升儀器靈敏度和檢出限。　　多道型直讀光譜儀測量的是各通道出縫寬度內的光強累加值，無法區分背景強度和譜線強度，原子吸收光譜儀，測量精度受到背景強度的影響。　　全譜型直讀光譜儀可以獲得每條譜線的輪廓信息，因此可結合背景校正技術，正確區分背景和譜線，原子熒光光譜儀，有效提高測量精度

一臺典型的光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分：                                                          1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。                                                                                            

                                                                                             2. 準直元件: 使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。         

3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。                                                               4  聚焦元件: 聚焦色散后的光束，光譜儀原理，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。                  5. 探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

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